Start

Focused Ion Beam (FIB) System

Frist:31 Jul 2024, 00:00 CEST

Ausschreibungsinformationen

TED EU

Eggenstein-Leopoldshafen, Germany

Art
16
Verfahren
open
Referenznummer
394735-2024
CPV
38511000

Plasma FIB Dual-Beam-Elektronenmikroskop (P-FIB)

Alle Ausschreibungsinformationen anzeigen

Dokumente

Alle wichtigen Termine anzeigen