Microscópio eletrónico de varrimento de alta resolução com coluna de eletrões (FEG-SEM) e coluna de iões (FIB) – sistema FIB-SEM dual beam
Ausschreibungsinformationen
TED EULisboa, Portugal
- Art
- 29
- Verfahren
- open
- Referenznummer
- 228430-2026
- Geschätzter Wert
- 920,000 EUR
- CPV
- 38511000
Concurso Público com publicidade no Jornal Oficial da União Europeia n.º 01/2026/IST-ID/NC/SP para aquisição de microscópio eletrónico de varrimento de alta resolução com coluna de eletrões (FEG-SEM) e coluna de iões (FI…