Equipment- & Prozessspezifikationen Wafer Level Rasterkraftmikroskop für optische Absorptionsmessungen mit nm-Auflösung - PR659318 - 3340 - W
Ausschreibungsinformationen
TED EUMünchen, Germany
- Art
- 29
- Verfahren
- neg-w-call
- Referenznummer
- 657807-2024
- Geschätzter Wert
- 0 EUR
- CPV
- 38600000
PR659318 - 3340 - W Equipment- & Prozessspezifikationen Wafer Level Rasterkraftmikroskop für optische Absorptionsmessungen mit nm-Auflösung / Photoinduced Force Mircroscopy PiFM