Geschlossen
200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Frist:24 Jul 2026, 12:00 CEST
Ausschreibungsinformationen
TED EUFrankfurt (Oder), Deutschland
- Art
- 16
- Verfahren
- Offenes Verfahren
- Referenznummer
- 432100-2026
- CPV
- 38341300 Instrumente zum Messen elektrischer Größen
200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
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