Vergabeverfahren zur Lieferung eines Rasterkraftmikroskop

enschaften, (b) elektronischer und ionischer Leitfähigkeit, (c) Oberflächenpotentialen und (d) mechanischen Eigenschaften und für großflächige und dicke Substrate (3x3x2 cm oder mehr) einsetzbar sein. Gefordert werden zudem Messmodi, die ermöglichen, die Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe gena

u zu steuern um sehr weiche organische Stoffe zu untersuchen, eine laterale Auflösung von sub-Nanometer bis zu einigen Dutzend µm. Ein rausch- und driftfreier Closed-Loop-Betrieb ist ein Muss, ebenso wie die Möglichkeit, die Probentemperatu