Geschlossen
Plasma FIB Dual-Beam-Elektronenmikroskop (P-FIB)
Frist:31 Jul 2024, 12:00 CEST
Ausschreibungsinformationen
DE_BKMSEggenstein-Leopoldshafen, Germany
- Art
- tender
- Verfahren
- Open
- Referenznummer
- 0abd79d2-79af-4867-b5fa-c746cca4d5ac
- CPV
- 38511000
Plasma FIB Dual-Beam-Elektronenmikroskop (P-FIB)