Focused Ion Beam (FIB) System
Frist:31 Jul 2024, 12:00 CEST
Ausschreibungsinformationen
DE_BKMSEggenstein-Leopoldshafen, Germany
- Art
- tender
- Verfahren
- Open
- Referenznummer
- 55c4ef97-4027-47fa-9e6a-fb1e6c70c09f
- CPV
- 38511000
Plasma FIB Dual-Beam-Elektronenmikroskop (P-FIB)