Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl - PR517862- 2350 - W
Ausschreibungsinformationen
DE_BKMSMünchen, Germany
- Art
- goods (award)
- Verfahren
- Open
- Referenznummer
- 116c6d85-411e-4253-911b-68f3a1783c4c
- CPV
- 42990000
PR517862- 2350 - W Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB SEM)