Equipo de difracción de rayos x, principalmente para materiales policristalinos en capa delgada

icativa para alcanzar un nivel superlativo en España y Europa. En el marco de esta ampliación de capacidades, que también incluye nuevas técnicas de caracterización, una de las necesidades perentorias del Instituto es la rápida caracterización composicional de capas de materiales cristalinos, crecid

os epitaxialmente o por otras técnicas de fabricación, que también permita detectar la presencia de defectos estructurales, texturas, e incluso la presencia de cierto grado de ordenación (atómica o de poros). La cristalografía de rayos X es