Acquisition, livraison, installation, mise en service et formation d’un appareil de Microscopie à Sonde Locale d’occasion récente (microscope à force atomique—AFM, microscope à effet tunnel—STM) spécialement conçu pour être placé sur un microscope optique inversé pour l’ISMO du CNRS.

al utile pour leurs expériences, c'est à dire émettant à une longueur d'onde supérieure à 970 nm, et incluant un système optique ou autre qui rendrait l’intensité de la lumière résiduelle du laser sur l’échantillon négligeable à des longueurs d’onde inférieures à 900 nm. Ceci est dans le but de pouv

oir réaliser des mesures optiques fines simultanément aux mesures AFM, sans devoir éteindre le laser de contrôle de l'AFM. L’équipement sera d’occasion ou reconditionné, aura maximum 5 ans à compter de l’année de fabrication, reconditionné