Kauf, Lieferung und Installation eines Rasterelektronenmikroskopes

m Leibniz IOM werden sehr unterschiedliche Proben untersucht, diese reichen von porösen Polymermembranen über beschichtete Glas- bzw. Keramikproben bis hin zu nanostrukturierten Metall- bzw. Halbleiteroberflächen. Dieses breite Portfolio an Proben muss zuverlässig messbar sein. Das neue Rasterelektr

onenmikroskop muss sich durch eine hohe Benutzerfreundlichkeit auszeichnen. Im Rahmen der zunehmenden Digitalisierung des Wissenschaftsbetriebes ist ein hohes Maß an Automatisierung und die Möglichkeit der Nutzung von KI-Methoden von höchst