Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes

ll die Charakterisierung der Anregungsdynamik nanostrukturierter Oberflächen unter Anregung mit kohärenter Laserstrahlung im sichtbaren bis infraroten Spektralbereich mit einer lateralen Ortsauflösung von 30 nm durch intensitäts- und phasenaufgelöste Vermessung des an einer Spitze gestreuten optisch

en Nachfeldes ermöglichen. Die technischen Leistungsparameter aus Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen.