Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro
Deadline:28 Jun 2026
Tender information
TED EUAveiro, Portugal
- Type
- 16
- Procedure
- open
- Ref. number
- 425114-2026
- Estimated value
- 600,000 EUR
- CPV
- 38511100
Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materia…