Scanning electron microscope (SEM)
Tender information
TED EUDen Haag, Netherlands
- Type
- 29
- Procedure
- open
- Ref. number
- 8102-2024
- Estimated value
- 506,000 EUR
- CPV
- 38511000
Binnen TNO-afdeling Nano Instrumentation is behoefte ontstaan om een rasterelektronenmicroscoop (scanning electron microscope) configuratie aan te schaffen. Dit om de kwaliteit van het onderzoekswerk te kunnen blijven ga…