SEM-Rasterelektronenmikroskop

reitgestellt werden. Das System sollte in der Lage sein, dielektrische Proben im Niedrigvakuummodus abzubilden, um Aufladungseffekte zu vermeiden. Alle Installationskomponenten, wie Schläuche, Kabel, Pumpen, Kühler, Computer usw. müssen enthalten sein. Die detaillierte Leistungsbeschreibung entnehme

n Sie bitte dem anliegenden Kriterienkatalog in den Vergabeunterlagen.