Raster-Kraft-Mikroskop für schnelle, nanomechanische und elektrochemische Charakterisierung
Tender information
TED EUStuttgart, Germany
- Type
- 29
- Procedure
- open
- Ref. number
- 307606-2024
- CPV
- 38514200
Raster-Kraft-Mikroskop für schnelle, nanomechanische und elektrochemische Charakterisierung