Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej
Deadline:13 Feb 2025, 23:00 CET
Tender information
TED EUWarszawa, Poland
- Type
- 16
- Procedure
- open
- Ref. number
- 26279-2025
- CPV
- 38500000
Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej do Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT