Elektronový mikroskop s xenonovým fokusovaným iontovým svazkem

metody EDS, EBSD a SIMS. SEM/PFIB mikroskop se všemi podpůrnými zařízeními (dále jen „mikroskop“) je dodán v takové konfiguraci, která zaručuje plnou funkčnost celku a všech jeho částí, tj. všechna nezbytná pomocná zařízení jsou součástí dodávky a jejich vzájemná spolupráce je zaručena. Mikroskop r

ovněž obsahuje dostatečná bezpečnostní opatření chránící mikroskop jako celek, jeho vakuový systém a elektroniku před vážným poškozením v případě náhlého přerušení dodávky elektrické energie, poruše vodního chlazení (je-li využíváno) a vaku