Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido con FIB (Focused Ion Beam), sistema de análisis por rayos X y sistema de ablación masiva de material mediante láser pulsado, destinado al Instituto de Microelectrónica de Sevilla de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.
Tender information
TED EUMadrid, Spain
- Type
- 29
- Procedure
- open
- Ref. number
- 670373-2025
- Estimated value
- 1,699,500 EUR
- CPV
- 38511100
Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el pliego de prescripciones técnicas.