Equipo de estación de puntas (“PROBE SYSTEM”) para caracterización óptica, DC y RF automática en temperatura para obleas de 8”

e los -40 grados a 200 grados. Esta tecnología es clave en el proceso de verificación y testeo de los dispositivos electrónicos y fotónicos creados en las propias instalaciones (Sala blanca) del centro o dando servicios dispositivos externos. Cerrando por tanto el ciclo en el desarrollo de circuitos

integrados. Este equipo mejora significativamente nuestras capacidades ya que permite testear circuitos de pocos milímetros de tamaños a obleas completas de 8 pulgadas) simultáneamente en el espectro óptico (1300nm y 1550nm) y radioeléctri