Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern - PR468071 -2390 - W
Tender information
TED EUMünchen, Germany
- Type
- 16
- Procedure
- neg-w-call
- Ref. number
- 132385-2024
- CPV
- 38511100
PR468071 -2390 - W Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern