Skenovací elektronový mikroskop s vysokým rozlišením a s analýzou prvkového a fázového složení a krystalografické orientace

truktury, prvkového a fázového složení a krystalografické orientace ve vodivých i nevodivých vzorcích.

Předmětem veřejné zakázky je dodávka skenovacího elektronového mikroskopu (SEM) s detektory EDS a EBSD k povrchové analýze pevných látek s mikro- až nanometrovým rozlišením umožňujícího charakterizaci morfologie a mikros