- Type
- 29
- Procedure
- open
- Ref. number
- 510484-2024
- Estimated value
- 294,117 EUR
- CPV
- 38000000
Ausgeschrieben wurde ein hochmodernes Rasterkraftmikroskop (AFM) für Forschungszwecke. Neben der topographischen Charakterisierung von Proben muss das AFM für die Charakterisierung von (a) piezo- und ferroelektrischen Ei…
genschaften, (b) elektronischer und ionischer Leitfähigkeit, (c) Oberflächenpotentialen und (d) mechanischen Eigenschaften und für großflächige und dicke Substrate (3x3x2 cm oder mehr) einsetzbar sein. Gefordert werden zudem Messmodi, die ermöglichen, die Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe gen
au zu steuern um sehr weiche organische Stoffe zu untersuchen, eine laterale Auflösung von sub-Nanometer bis zu einigen Dutzend µm. Ein rausch- und driftfreier Closed-Loop-Betrieb ist ein Muss, ebenso wie die Möglichkeit, die Probentemperat