Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl - PR517862- 2350 - W
Tender information
TED EUMünchen, Germany
- Type
- 29
- Procedure
- open
- Ref. number
- 242481-2024
- CPV
- 42990000
PR517862- 2350 - W Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB SEM)