Lieferung und Installation AFM-IR und s-SNOM

optischer Rasternahfeldmikroskopie (s-SNOM). Die in derLeistungsbeschreibung aufgelisteten Komponenten mit vergleichbaren oder besserenSpezifikationen sind zu liefern, zu installieren und zu schulen.

Ausschreibungsgegenstand ist ein System für korrelative Rastersondenmikroskopie, bestehend auseiner zentralisierten Rasterkraftmikroskop-Plattform, photothermischer Infrarotspektroskopie und -abbildung sowie aperturloser