Atomic Force Microscope (AFM)
Deadline:28 Nov 2024, 00:00 CET
Tender information
TED EUGarching, Germany
- Type
- 16
- Procedure
- open
- Ref. number
- 658687-2024
- CPV
- 38000000
Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Unt…