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Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido con FIB (Focused Ion Beam), sistema de análisis por rayos X y sistema de ablación masiva de material mediante láser pulsado, destinado al Instituto de Microelectrónica de Sevilla de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.
Deadline:14 Jul 2025, 00:00 CEST
Tender information
TED EUMadrid, Spain
- Type
- 16
- Procedure
- open
- Ref. number
- 377443-2025
- Estimated value
- 1,700,000 EUR
- CPV
- 38511100
Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el pliego de prescripciones técnicas.