Lieferung und Installation AFM-IR und s-SNOM

r optischer Rasternahfeldmikroskopie (s-SNOM). Die in der Leistungsbeschreibung aufgelisteten Komponenten mit vergleichbaren oder besseren Spezifikationen sind zu liefern, zu installieren und zu schulen.

Ausschreibungsgegenstand ist ein System für korrelative Rastersondenmikroskopie, bestehend aus einer zentralisierten Rasterkraftmikroskop-Plattform, photothermischer Infrarotspektroskopie und -abbildung sowie aperturlose