Das im Folgenden beschriebene Nah-Umgebungsdruck Röntgenphotoelektronen-Spektrometer (Near-Ambient-Pressure X-ray photoelectron spectrometer, NAP-XPS) soll die Analyse von Katalysatorproben (u.a. Pulverkatalysatoren, Mod…
ellkatalysatoren auf definierten Kristalloberflächen) bei Drücken nahe dem Umgebungsdruck ermöglichen. Im Vergleich zu Standard-XPS-Systemen, bei denen ein Ultrahochvakuum (UHV) für die Messung nötig ist, sollen zusätzlich Untersuchungen bei Systemdrücken im mbar-Bereich von 30mbar oder höher, für G
asgemische bestehend aus u.a. H2, CO, CO2, CH4, O2 und/oder CH3OH, durchgeführt werden. Ziel ist eine in-situ Messung der Probenoberfläche und der auf dieser gebundenen Moleküle unter Reaktionsbedingungen bei katalytischen Prozessen, was so