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Field-Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) with Electron Backscatter Diffraction (EBSD) and Energy Dispersive Spectroscopy (EDS) Detectors and Analytical Software.

Frist:31 Jul 2026, 09:00 GMT-4

Ausschreibungsinformationen

SAM.gov

GAITHERSBURG, Vereinigte Staaten

Art
Sources Sought
Verfahren
Sources Sought
Referenznummer
58ad028e04c243f88d0e5009df20e129
NAICS
334516
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