Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern - PR468071 -2390 - W

Tender information

DE_BKMS

München, Germany

Type: goods (award)
Procedure: Negotiated with prior publication of a call for competition / competitive with negotiation
Ref. number: fe17ef55-5ed3-4cb3-895f-e5cf0ad4bf44
CPV: 38511100

PR468071 -2390 - W Focus Ion Beam Rasterelektronenmikroskop für die Inspektion und EDX-Analyse von 200mm Wafern