Atomic Force Microscope (AFM)
Deadline:28 Nov 2024, 12:00 CET
Tender information
DE_BKMSGarching, Germany
- Type
- goods (tender)
- Procedure
- Open
- Ref. number
- 351881df-49cc-402f-b369-4f2a00e2fef1
- CPV
- 38000000
Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Unt…