Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes
Deadline:10 Feb 2026, 10:00 CET
Tender information
DE_BKMSJena, Germany
- Type
- goods (tender)
- Procedure
- Open
- Ref. number
- 15dd249c-4970-4390-aee4-1134939673a7
- CPV
- 38000000
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena möchte ein Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes (scattering Scanning Nearfield Optical Microscope s-SNOM) beschaffen. Dieses so…