Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl - PR517862- 2350 - W
Deadline:13 Mar 2024, 11:00 CET
Tender information
DE_BKMSMünchen, Germany
- Type
- goods (tender)
- Procedure
- Open
- Ref. number
- f9ddfefc-979e-402f-9108-8d65a4dfbf27
- CPV
- 42990000
PR517862- 2350 - W Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB SEM)