Equipment- & Prozessspezifikationen Wafer Level Rasterkraftmikroskop für optische Absorptionsmessungen mit nm-Auflösung - PR659318 - 3340 - W
Tender information
DE_BKMSMünchen, Germany
- Type
- goods (tender)
- Procedure
- Negotiated with prior publication of a call for competition / competitive with negotiation
- Ref. number
- b334f664-abfc-49b5-b7bb-34a589115f01
- CPV
- 38600000
PR659318 - 3340 - W Equipment- & Prozessspezifikationen Wafer Level Rasterkraftmikroskop für optische Absorptionsmessungen mit nm-Auflösung / Photoinduced Force Mircroscopy PiFM