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Waferprober für das Innovationszentrum Hamburg

Tender information

DE_BKMS

Köln, Germany

Type
goods (award)
Procedure
Open
Ref. number
5ebfa9ce-067e-4edc-87e5-65bcf9f87de5
CPV
42000000

Zur Charakterisierung und Beurteilung der hergestellten Strukturen ist eine elektrische Charakterisierung notwendig. Die Messungen sollen auf Waferlevel durchgeführt werden, um eine ausreichende Datenbasis aufzunehmen. Z

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