Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes
Tender information
DE_BKMSJena, Germany
- Type
- goods (award)
- Procedure
- Open
- Ref. number
- d8546ba9-e270-4309-bb16-ed652f271598
- CPV
- 38000000
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena möchte ein Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes (scattering Scanning Nearfield Optical Microscope s-SNOM) beschaffen. Dieses so…