Halbautomatisches Wafer-Testsystem für elektrische Feldpolarisation

nnschichten zu erreichen und damit die Herstellung integrierter polarisierter Wellenleiter auf Waferskala für die nichtlineare Frequenzumwandlung zu ermöglichen. Die technischen Leistungsparameter aus Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen.

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für den Kauf eines (1) Wafer-Testsystems, um eine elektrische Kontaktierung zu Mikroelektroden auf Waferskala für die elektrische Feldpolarisation ferroelektrischer Dü