Dual Beam Focused Ion Beam System (FIB) und Transmissionselektronenmikroskop (TEM)

Deadline:17 Aug 2026, 23:59 CEST

Tender information

DE_BKMS

Kaiserslautern, Germany

Type: goods (tender)
Procedure: Open
Ref. number: c6abad07-e17d-4e42-b1fc-35d01bf3fcf6
CPV: 38000000

Los1: DualBeam Focused Ion Beam Systems (FIB) Gegenstand ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines DualBeam Focused Ion Beam Systems (FIB) einschließlich Einweisung/Schulung un…

d vollständiger Systemdokumentation. Die technischen Mindestanforderungen und Bewertungsaspekte ergeben sich aus den Dokumenten "Los1.25-1696.05.techn.Anforderungsprofil" und "Los1.25-1696.06.Wertungsmatrix". Los2: Transmissionselektronenmikroskop (TEM) Gegenstand ist die Lieferung, Installation,

Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines Transmissionselektronenmikroskops (TEM) einschließlich Einweisung/Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Die technischen Mindestanforderungen und Bewertungsaspekte ergeben sich au

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