Equipment- & Prozessspezifikationen Wafer Level Rasterkraftmikroskop für optische Absorptionsmessungen mit nm-Auflösung - PR659318 - 3340 - W
Tender information
DE_BKMSMünchen, Germany
- Type
- goods (award)
- Procedure
- Negotiated with prior publication of a call for competition / competitive with negotiation
- Ref. number
- 7bdfa136-1f36-4cad-bf62-a59a1c4b4c47
- CPV
- 38600000
PR659318 - 3340 - W Equipment- & Prozessspezifikationen Wafer Level Rasterkraftmikroskop für optische Absorptionsmessungen mit nm-Auflösung / Photoinduced Force Mircroscopy PiFM