Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM)
Tender information
DE_BKMSFrankfurt am Main, Germany
- Type
- goods (award)
- Procedure
- Negotiated without prior call for competition
- Ref. number
- f7d26bf7-bb99-43b1-a46f-97c68049e2cf
- Estimated value
- 1,680,672 EUR
- CPV
- 38511000
Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM), d.h. ein komplett neues vollautomatisiertes Plasma-Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskop.