Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM)
Tender information
TED EUFrankfurt am Main, Germany
- Type
- 29
- Procedure
- neg-wo-call
- Ref. number
- 427448-2025
- Estimated value
- 1,680,672 EUR
- CPV
- 38511000
Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM), d.h. ein komplett neues vollautomatisiertes Plasma-Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskop.