Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej
Tender information
TED EUWarszawa, Poland
- Type
- 29
- Procedure
- open
- Ref. number
- 150986-2025
- Estimated value
- 1,340,700 PLN
- CPV
- 38500000
Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej do Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT