Raman- & AFM-System

ie Glas, Saphir oder diverser Halbleiter sowie eines Rasterkraftmikroskops (AFM) zur nanoskaligen Vermessung der Topografie sowie der elektrischen Eigenschaften verschiedener Materialien, wie Glas, Saphir oder diverse Halbleiter.

Das Fraunhofer-Institut für Lasertechnik ILT beabsichtigt die Beschaffung sowohl eines konfokalen Raman-Mikroskops zur mikro- und nanoskaligen Vermessung der kristallographischen Eigenschaften verschiedener Materialien w