Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl - PR517862- 2350 - W
Tender information
DE_BKMSMünchen, Germany
- Type
- goods (award)
- Procedure
- Open
- Ref. number
- 116c6d85-411e-4253-911b-68f3a1783c4c
- CPV
- 42990000
PR517862- 2350 - W Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB SEM)