Rasterelektronenmikroskop mit elektrischer Messfunktion

Elektronikkomponenten, Mikro- und Nanosensoren und -aktoren mit Schnittstellen zur Kommunikation. Fraunhofer ENAS entwickelt Einzelkomponenten, die Technologien für deren Fertigung aber auch Systemkonzepte und Systemintegrationstechnologien und überführt sie in die praktische Nutzung. Ziel dieser Au

sschreibung ist der Kauf eines Desktop-Rasterelektronenmikroskop (REM), das eine elektrische Kontaktierung von Proben ermöglicht und während der elektrischen Charakterisierung die Analyse der Materialstöchometrie an der Probenoberfläche erm