Un microscope électronique à transmission à balayage (STEM) à haute résolution équipé d’un correcteur Cs

CIME. En plus des opérations TEM conventionnelles courantes, telles que l'imagerie BF/DF et la diffraction sur zone sélectionnée, le nouveau microscope servira à étudier la nanostructure et la composition chimique d'échantillons à une résolution atomique dans le domaine de la science des matériaux,

de la physique et de la chimie. Il sera également utilisé par des utilisateurs novices en microscopie qui ont besoin d'un microscopie corrigée en Cs. Son fonctionnement et son alignement doivent être intuitifs et ne pas nécessiter une longu